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Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits, Fachbücher von Jose Luis Huertas Díaz
Das Buch "Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits" bietet eine umfassende Analyse der Test- und Entwurfsmethoden für analoge und gemischte Signal-ICs. In einer Zeit, in der System-on-Chip (SoC) Technologien zunehmend komplexer werden, wird die Testbarkeit zu einem entscheidenden Faktor für den Erfolg von integrierten Schaltungen. Dieses Fachbuch richtet sich sowohl an Fachleute als auch an Studierende und vermittelt grundlegende Konzepte sowie innovative Ansätze in verständlicher Form. Es beleuchtet die Herausforderungen und Lösungen in der Testbarkeit von heterogenen Systemen und bietet einen wertvollen Überblick über den aktuellen Stand der Forschung. Die detaillierte Behandlung verschiedener Themen, einschliesslich der Nutzung von DSP-basierten Testwerkzeugen und der Standardisierung nach IEEE 1149.4, macht es zu einer wichtigen Ressource für alle, die sich mit der Entwicklung komplexer ICs beschäftigen.
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Springer Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits (Englisch, Softcover, Jose Luis Huertas Díaz) (55380006)
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Springer Design for Testability, Debug and Reliability (Englisch, Hardcover, Rolf Drechsler, Sebastian Huhn) (9783030692087)Springer Design for Testability, Debug and Reliability (Englisch, Hardcover, Rolf Drechsler, Sebastian Huhn) (9783030692087)117,69 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Gear, Robert: Cambridge Grammar and Vocabulary for the TOEIC TestCambridge Grammar and Vocabulary for the TOEIC Test , Paperback with answers and Audio CDs (2) , Halterungen & Klemmen > Fußsteuerung, Pedale & Fußauflagen , Erscheinungsjahr: 20110104, Produktform: Kartoniert, Autoren: Gear, Robert~Gear, Jolene, Keyword: Englisch; Hochschule; Paperback with answers and Audio CDs (2); Prüfungsvorbereitung; VHS, Fachschema: England / Sprache~Englisch~Englisch / Lehrbuch, Lehrgang, VHS, Fachkategorie: Unterricht und Didaktik: Moderne Sprachen, Sprache: Englisch, Bildungszweck: für die Hochschule~für die Erwachsenenbildung~Für die Erwachsenenbildung (Deutschland), Altersempfehlung / Lesealter: 23, Genaues Alter: ERW, Warengruppe: HC/Schulbücher/VHS/Erwachsenenbildung, Fachkategorie: Fremdsprachenerwerb: Grammatik, Wortschatz, Aussprache, Schulform: ERW FCH HOS, UNSPSC: 49019900, Warenverzeichnis für die Außenhandelsstatistik: 49019900, Verlag: Klett Sprachen GmbH, Verlag: Klett Sprachen GmbH, Verlag: Klett, Ernst, Sprachen GmbH, Länge: 246, Breite: 187, Höhe: 30, Gewicht: 555, Produktform: Kartoniert, Genre: Schule und Lernen, Genre: Schule und Lernen,37,80 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Design for Testability, Debug and Reliability (Englisch, Softcover, Rolf Drechsler, Sebastian Huhn) (38969806)Springer Design for Testability, Debug and Reliability (Englisch, Softcover, Rolf Drechsler, Sebastian Huhn) (38969806)117,69 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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VLSI Design and Test for Systems Dependability, Fachbücher von Shojiro AsaiDas Buch "VLSI Design and Test for Systems Dependability" bietet eine umfassende Analyse der Rolle von VLSI (Very-Large-Scale Integration) in der sicheren und zuverlässigen Gestaltung sowie dem Betrieb elektronischer Systeme. Es gliedert sich in drei Hauptteile, die sich mit den verschiedenen Aspekten der Abhängigkeit und Zuverlässigkeit von VLSI-Systemen befassen. Der erste Teil bietet eine allgemeine Einführung in die Thematik und beleuchtet die Prinzipien des Dependability Engineering, das die gleichzeitige Bewertung von möglichen Fehlfunktionen und den Kosten ihrer Eindämmung umfasst. Der zweite Teil thematisiert die Bedrohungen für die Zuverlässigkeit von VLSI-Komponenten, während der dritte Teil sich auf die Technologien zur Gestaltung und Prüfung von Systemen in verschiedenen Anwendungen konzentriert, darunter Robotik, Datenverarbeitung und Telekommunikation. Dieses Buch dient sowohl als Referenz für Ingenieure als auch als Lehrmaterial für Studierende in fortgeschrittenen Kursen.246,09 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
Springer Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs (Englisch, Softcover, Brandon Noia, Krishnendu Chakrabarty) (55837204)
Springer Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs (Englisch, Softcover, Brandon Noia, Krishnendu Chakrabarty) (55837204)
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Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits, Fachbücher von Jose Luis Huertas DíazDas Buch "Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits" bietet eine umfassende Analyse der Test- und Entwurfsmethoden für analoge und gemischte Signal-ICs. In einer Zeit, in der System-on-Chip (SoC) Technologien zunehmend komplexer werden, wird die Testbarkeit zu einem entscheidenden Faktor für den Erfolg von integrierten Schaltungen. Dieses Fachbuch richtet sich sowohl an Fachleute als auch an Studierende und vermittelt grundlegende Konzepte sowie innovative Ansätze in verständlicher Form. Es beleuchtet die Herausforderungen und Lösungen in der Testbarkeit von heterogenen Systemen und bietet einen wertvollen Überblick über den aktuellen Stand der Forschung. Die detaillierte Behandlung verschiedener Themen, einschliesslich der Nutzung von DSP-basierten Testwerkzeugen und der Standardisierung nach IEEE 1149.4, macht es zu einer wichtigen Ressource für alle, die sich mit der Entwicklung komplexer ICs beschäftigen.160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits (Englisch, Softcover, Jose Luis Huertas Díaz) (55380006)Springer Test and Design-for-Testability in Mixed-Signal Integrated Circuits (Englisch, Softcover, Jose Luis Huertas Díaz) (55380006)160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Design for Testability, Debug and Reliability (Englisch, Hardcover, Rolf Drechsler, Sebastian Huhn) (9783030692087)Springer Design for Testability, Debug and Reliability (Englisch, Hardcover, Rolf Drechsler, Sebastian Huhn) (9783030692087)117,69 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Gear, Robert: Cambridge Grammar and Vocabulary for the TOEIC TestCambridge Grammar and Vocabulary for the TOEIC Test , Paperback with answers and Audio CDs (2) , Halterungen & Klemmen > Fußsteuerung, Pedale & Fußauflagen , Erscheinungsjahr: 20110104, Produktform: Kartoniert, Autoren: Gear, Robert~Gear, Jolene, Keyword: Englisch; Hochschule; Paperback with answers and Audio CDs (2); Prüfungsvorbereitung; VHS, Fachschema: England / Sprache~Englisch~Englisch / Lehrbuch, Lehrgang, VHS, Fachkategorie: Unterricht und Didaktik: Moderne Sprachen, Sprache: Englisch, Bildungszweck: für die Hochschule~für die Erwachsenenbildung~Für die Erwachsenenbildung (Deutschland), Altersempfehlung / Lesealter: 23, Genaues Alter: ERW, Warengruppe: HC/Schulbücher/VHS/Erwachsenenbildung, Fachkategorie: Fremdsprachenerwerb: Grammatik, Wortschatz, Aussprache, Schulform: ERW FCH HOS, UNSPSC: 49019900, Warenverzeichnis für die Außenhandelsstatistik: 49019900, Verlag: Klett Sprachen GmbH, Verlag: Klett Sprachen GmbH, Verlag: Klett, Ernst, Sprachen GmbH, Länge: 246, Breite: 187, Höhe: 30, Gewicht: 555, Produktform: Kartoniert, Genre: Schule und Lernen, Genre: Schule und Lernen,37,80 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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VLSI Design and Test for Systems Dependability, Fachbücher von Shojiro AsaiDas Buch "VLSI Design and Test for Systems Dependability" bietet eine umfassende Analyse der Rolle von VLSI (Very-Large-Scale Integration) in der sicheren und zuverlässigen Gestaltung sowie dem Betrieb elektronischer Systeme. Es gliedert sich in drei Hauptteile, die sich mit den verschiedenen Aspekten der Abhängigkeit und Zuverlässigkeit von VLSI-Systemen befassen. Der erste Teil bietet eine allgemeine Einführung in die Thematik und beleuchtet die Prinzipien des Dependability Engineering, das die gleichzeitige Bewertung von möglichen Fehlfunktionen und den Kosten ihrer Eindämmung umfasst. Der zweite Teil thematisiert die Bedrohungen für die Zuverlässigkeit von VLSI-Komponenten, während der dritte Teil sich auf die Technologien zur Gestaltung und Prüfung von Systemen in verschiedenen Anwendungen konzentriert, darunter Robotik, Datenverarbeitung und Telekommunikation. Dieses Buch dient sowohl als Referenz für Ingenieure als auch als Lehrmaterial für Studierende in fortgeschrittenen Kursen.246,09 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Springer Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs (Englisch, Softcover, Brandon Noia, Krishnendu Chakrabarty) (55837204)Springer Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs (Englisch, Softcover, Brandon Noia, Krishnendu Chakrabarty) (55837204)109,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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